常用珠寶首飾相關標準
我國標準分為國家標準、行業標準、地方標準和企業標準，又分為強制性標準和推薦性標準，標準編碼的組成為：標準代號+標準順序號+批準年號。
國家、行業、地方標準代號 | ||
標準層次 | 強制性標準 | 推薦性標準 |
國家標準 | GB | GB/T |
輕工行業標準 | QB | QB/T |
地方標準 | DB | DB/T |
企業標準 | Q/企業代號 | |
貴金屬執行標準 | |||
標準號 | 名稱 | 適用范圍 | 實施日期 |
GB 11887-2012 | 首飾 貴金屬純度的規定及命名方法 | 本標準規定了首飾中貴金屬的純度范圍、印記、測定方法和貴金屬首飾的命名方法。 本標準適用于首飾行業和國內生產及銷售的貴金屬首飾。貴金屬擺件參照執行。 | 2013-05-01 |
GB/T18043-2013 | 貴金屬首飾含量無損檢驗方法-X射線熒光光譜法 | 本標準規定了應用X射線熒光光譜測定首飾中貴金屬含量的方法及要求。 本標準適用于首飾和其他工藝品的定性分析及其中的貴金屬（金、銀、鉑、鈀）含量的篩選檢測。 | 2014-03-01 |
QB/T 2062-2006
| 貴金屬飾品 | 本標準規定了貴金屬飾品（以下簡稱飾品）的分類、要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存。 | 2006-12-01 |
DB44/495-2008 | 貴金屬飾品 標注方法 |
本標準規定了貴金屬及貴金屬鑲嵌飾品（包括首飾和工藝品）的產品標識的基本要求和標注方法。本標準適用于貴金屬及貴金屬鑲嵌飾品標識標注。 | 2008-10-01 |
GB/T 28020-2011 | 飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法 | 本標準規定了飾品中有害元素的X射線熒光光譜檢測方法。 本標準適用于各種材質的飾品（珠寶玉石除外）表層中有害元素的檢測。 | 2012-02-01 |
GB/T28021-2011 | 飾品 有害元素的測定 光譜法 | 本標準規定了飾品中有害元素的含量及溶出量的光譜測定方法。本標準適用于飾品中有害元素的含量及溶出量的測定。 | 2012-02-01 |
GB28480-2012 | 飾品 有害元素限量的規定 | 本標準規定了飾品中有害元素的種類及其限量。本標準適用于各種材質的飾品(玉石除外) | 2013-05-01 |
GB/T19719-2005 | 首飾 鎳釋放量的測定 光譜法 | 本標準規定了首飾中鎳的釋放量的測試方法，以測定該樣品鎳的釋放量是否大于0.5μg/(cm2·week)。本標準適用于GB11887-2002中4.3.2所規定的含鎳首飾鎳釋放量的測試，也適用于長期接觸人體皮膚的制品。 | 2005-09-01 |
QB/T 1690-2004 | 貴金屬飾品質量測量允差的規定 | 本標準規定了金、銀、鉑、鈀飾品及材料質量測量允差的要求、試驗方法和標志。本標準適用于以質量結算的金、銀、鉑、鈀飾品及材料的貿易。 | 2005-01-01 |
GB/T1423-1996 | 貴金屬及其合金密度的測試方法 | 本標準規定了貴金屬及其合金材料室溫密度的測定方法。本標準適用于貴金屬及其合金材料室溫密度的測定。其他金屬及合金材料以及部分非金屬固體材料亦可參照使用。本標準不適用于粉末材料及多孔材料密度的測定。 | 1997-04-01 |
QB1131-2005 | 首飾 金覆蓋層厚度的規定 | 本標準規定了首飾制品金覆蓋層厚度的術語和定義、要求、檢驗方法和標識。本標準適用于非金基體的首飾制品。 | 2006-05-01 |
QB1132-2005 | 首飾 銀覆蓋層厚度的規定 | 本標準規定了首飾制品銀覆蓋層厚度的術語和定義、要求、檢驗方法和標識。本標準適用于非銀基體的首飾制品。 | 2006-05-01 |
QB/T1135-2006 | 首飾 金、銀覆蓋層厚度的測定 X射線熒光光譜法 | 本標準規定了用X射線熒光光譜法測量首飾金、銀覆蓋層厚度的方法。本標準適用于首飾及其它工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定(覆蓋層與基體為非相同材質)。注：本方法測定的覆蓋層厚度相當于足金或足銀的厚度，可根據實際金、銀覆蓋層含量進行折算。 | 2006-12-01 |
QB/T2997-2008 | 貴金屬覆蓋層飾品 | 本標準規定了貴金屬覆蓋層飾品的術語和定義、要求、試驗方法標志、包裝、運輸、貯存。本標準適用于除貴金屬(金、銀、鉑、鈀、銠等)以外的各類金屬為基材制作的金覆蓋層系列、銀覆蓋層系列和銠覆蓋層系列等飾品。以非金屬為基材的貴金屬覆蓋層飾品可參照本標準執行。 | 2008-12-01 |
GB/T17832-2008 | 銀合金首飾 銀含量的測定 溴化鉀容量法 (電位滴定法) | 本標準規定了采用溴化鉀容量法(電位滴定法)測定銀合金首飾中的銀含量。本標準適用于銀含量800‰~990‰的銀合金首飾、工藝品及其材料。本標準被GB11887指定為銀首飾中銀含量測定的仲裁方法。 注：銀合金中可以含有銅、鋅、鎘和鈀，這些元素除鈀必須在滴定前先沉淀分離外，其余元素的存在不會干擾本測定方法。 | 2009-07-01 |
GB/T 9288-2006 | 金合金首飾 金含量的測定灰吹法（火試金法） | 本標準規定了采用灰吹法（火試金法）測定金合金首飾中含金量的方法。 本標準適用于金含量在333.0‰~999.5‰的各種金和K金首飾（不含鉑、銠等不溶于硝酸的成分）的金含量的測定。 本標準被GB 11887指定為金合金首飾中金含量分析的仲裁方法。 | 2006-10-01 |
GB/T601-2002 | 化學試劑標準滴定溶液的制備 | 本標準規定了化學試劑標準滴定溶液的配制和標定方法。本標準適用于制備準確濃度的標準滴定溶液，以供滴定法測定化學試劑的純度及雜質含量，也可供其他行業選用。 | 2003-04-01 |
GB/T602-2002 | 化學試劑 雜質測定用標準溶液的制備 | 本標準規定了化學試劑雜質測定用標準溶液的制備方法。本標準適用于制備單位容積內含有準確數量物質(元素、離子或分子)的溶液，適用于化學試劑中雜質的測定，也可供其他行業選用。 | 2003-04-01 |
GB/T603-2002
| 化學試劑 試驗方法中所用制劑及制品的制備 | 本標準規定了化學試劑試驗方法中所用制劑及制品的制備方法。本標準適用于化學試劑分析中所需制劑及制品的制備，也可供其他行業選用。 | 2003-04-01 |
GB/T6682-2008 | 分析實驗室用水規格和試驗方法 | 本標準規定了分析實驗室用水的級別、規格、取樣及貯存、試驗方法和試驗報告。本標準適用于化學分析和無機痕量分析等試驗用水。可根據實際工作需要選用不同級別的水。 | 2008-11-01 |
GB/T22554-2010 | 基于標準樣品的線性校準 | 本標準規定了測量系統的校準以及被校準測量系統維持在統計受控狀態的通用原則。本標準規定了用于以下目的的基本方法： a)測量變異性兩種假定下線性校準函數的估計；b)校準函數線性性和測量變異性假定的檢驗；c)被測值基于校準函數變化后的新未知量的估計。 本標準給出了校準函數使用周期的控制方法，用于： a)檢驗校準函數何時需要更新； b)通過校準函數變換后被測值的不確定度評估。 本標準規定了特定條件下基本方法的兩種替代方法，給出了基本方法和控制方法的示例。 本標準適用于可獲取標準樣品的測量系統及假定線性校準函數的測量系統，并提供了檢驗線性假定的方法。 本標準不適用于已知校準函數呈非線性情況，除非使用8.3描述的“夾逼技術”。 本標準不區分各種類型的標準樣品，并認為測量系統校準所用標準樣品的接受值不存在誤差。 | 2011-04-01 |
GB/T16597-1996 | 冶金產品分析方法 X射線熒光光譜法通則 | 本標準規定了用X射線熒光光譜法進行元素定量分析的一般事項，包括所涉及的常用術語、基本原理、儀器、樣品處理、定量分析等，供以X射線管作激發源的波長色散X射線熒光光譜儀使用。 本標準適用于制(修)訂冶金產品的X射線熒光光譜法國家標準或行業標準，其他標準也可參照使用。 | 1997-04-01 |
GB/T 16921-2005 ISO3497：2000
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金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法 |
本標準規定了應用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。 本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結果也可以用覆蓋層的線性厚度表示。 本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。 給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用的儀器設備和操作規程而不同。 |
2006-04-01 |
QB/T2630.1-2004 | 金飾工藝畫 第1部分：金膜畫金層 | 本部分規定了金膜畫金層的要求和試驗方法。 本部分適用于在金膜上印刷各種文字、圖案、書畫、照片等金膜畫的金層。 | 2005-01-01 |
QB/T2630.2-2004 | 金飾工藝畫 第2部分：金箔畫金層 | 本部分規定了金箔畫金層的要求和試驗方法。 本部分適用于金箔畫的生產和檢驗。其他貼金膠片工藝品可參照執行。
| 2005-01-01 |
QB/T2631.1-2004 | 金飾工藝畫 金層含金量與厚度測定 ICP光譜法 第1部分：金膜畫 | 本部分規定了金膜畫金層含金量與厚度的測定方法。 本部分適用于QB/T2630.1《金飾工藝畫 第1部分：金膜畫金層》所規定的金層含金量與厚度的測定，也適用于在金膜上印刷各種文字、圖案等制品金層的測試。 | 2005-01-01 |
QB/T2631.2-2004
| 金飾工藝畫 金層含金量與厚度測定 ICP光譜法 第2部分：金箔畫
| 本部分規定了金箔畫金層含金量與厚度的測定方法。 本部分適用于QB/T2630.2《金飾工藝畫 第2部分：金箔畫金層》所規定的金層含金量與厚度的測定。其他貼金膠片工藝品測定可參照執行。 | 2005-01-01 |
GB/T21198.4-2007 | 貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定 ICP光譜法 第4部分：999‰貴金屬合金首飾 貴金屬含量的測定 差減法 | GB/T21198的本部分規定了通過測定999‰的貴金屬合金首飾中的雜質元素含量來確定鉑合金首飾中的鉑含量，鈀合金首飾中的鈀含量，金合金首飾中的金含量的方法。 本部分適用于含量為999‰的貴金屬合金首飾。注：首飾中可含鉑、鈀、金、鉍、鎘、鈷、銅、鐵、銥、鎳、鉛、銠、釕、錫、鈦和鋅。 | 2008-07-01 |
GB/T21198.5-2007 | 貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定 ICP光譜法 第5部分：999‰銀合金首飾 銀含量的測定 差減法 | GB/T21198的部分規定了通過測定999‰銀合金首飾中的雜質元素含量來確定銀含量的方法。 本部分適用于銀含量為999‰的銀合金首飾。注：首飾中可含鉑、鈀、金、鉍、鎘、鈷、銅、鐵、銥、鎳、鉛、銠、釕、錫、鈦和鋅。
| 2008-07-01 |
GB/T21198.6-2007 | 貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定 ICP光譜法 第6部分：差減法
| GB/T21198的本部分規定通過測定金、鉑、鈀合金首飾中雜質元素含量來確定貴金屬含量的方法。 本部分適用于GB11887所確定的金、鉑、鈀首飾純度范圍，其中金含量為725‰~999‰，鉑量為800‰~999‰，鈀含量為800‰~999‰。注：首飾中可含鉑、金、鈀、銀、銅、鎳、鈷、鐵、鋅、鎘、釕、銠和銥等元素。
| 2008-07-01 |
